轮廓测量仪 SV-C3100 三丰

• 更新日期：2024-04-04

产品简介：
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 SV-C3100大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨

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        苏州勒丰精密仪器有限公司（德日维修部）专业从事日本三丰，德国马尔等品牌，以“质量*”为宗旨，向范围的广大市场提供千分尺，卡尺等量具；三坐标测量机，形状测量系统，视像测量系统，光学仪器等系统精密测量仪以及专业维修服务中心。公司技术力量雄厚，多名工程师都是来自世界*的量具生产企业，配件采用日本*，计量试验室仪器都是进口测量仪器，为客户解决维修后精度不良的后顾之忧，品质服务由计量质量检测部门支持并出具相关维修产品的检测报告，并与日本三丰“Mitutoyo”总代理建立有长期稳定的合作关系。是大陆地区*的量具量仪销售及维修服务商之一。

详细介绍
Formtracer（表面粗糙度/轮廓测量装置）SV-C3100/SV-C4100 

简单介绍 
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 SV-C3100大幅提高的驱动速度（X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s） 进一步减少了总的测量时间。
为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨；驱动器 （X 轴） 和立柱 （Z2 轴） 均配备了高精度线形编码器 （其中Z2 轴上为ABS 型）。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。 

特长：
本机为电动型支柱，触针式轮廓形状、表面粗度量测两用的复合机。
轮廓形状量测用Z轴检出器搭载Holographic光学尺（SV-C4100）、反射型光学尺（SV-C3100）。
表面粗度量测用Z轴检出装置，可对应ISO/新JIS。
检出器的滑动部为2段式，可提升检出器交换时的操作性。
资料处理软体，可做高难度的轮廓形状、粗度的评价解析。
资料处理装置的通讯系统使用RS-232C。 

表面粗糙度测量

直线度:±（0.05+0.001L）μm*于需要高精度测量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L为驱动长度（mm）

符合JIS’82/’94/’01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的标准。

标准配置：高精度测头（0.75mN/4mN测力），分辨率高至0.0001μm。

 

自动测量

在与CNC机型配套使用的众多外设选件的支持下，可实现自动测量。

 

轮廓驱动测量

X轴精度:±（0.8+0.01L）μm*Z1轴精度:±（0.8+I0.5HI/25）μm*于需要高精度测量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L为驱动长度,H为测量高度（mm）

SV-C4100系列的轮廓驱动器配备了激光全息测微计测头，Z1轴宽／窄范围均能达到*的精度和分辨率。

 

基本技术参数:

基座尺寸（H）:750x600mm或1000x450mm

基座材料:花岗岩

重量

　主机:140kg（S4）,150kg（H4）,220kg（W4）

140kg（S8）,150kg（H8）,220kg（W8）

　控制器:14kg

　遥控箱:0.9kg

电源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W（主机）