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TESA ETALON TCM200测量显微镜

  • 更新日期:2024-04-04

模块化结构设计, 可根据需要进行光学长度测量或表面金相检验. 优化的照明系统, 精密滚珠轴承工作台(150X100, 250X150mm 两种), 线性金属光栅尺组成的光电测量系统, 计算机内核的数据处理单元, RS232 数字输出, 出厂前的检验合格证书.

       苏州勒丰精密仪器有限公司(德日维修部)专业从事日本三丰,德国马尔等品牌,以“质量*”为宗旨,向范围的广大市场提供千分尺,卡尺等量具;三坐标测量机,形状测量系统,视像测量系统,光学仪器等系统精密测量仪以及专业维修服务中心。公司技术力量雄厚,多名工程师都是来自世界*的量具生产企业,配件采用日本*,计量试验室仪器都是进口测量仪器,为客户解决维修后精度不良的后顾之忧,品质服务由计量质量检测部门支持并出具相关维修产品的检测报告,并与日本三丰“Mitutoyo”总代理建立有长期稳定的合作关系。是大陆地区*的量具量仪销售及维修服务商之一。

主要特征

模块化结构设计, 可根据需要进行光学长度测量或表面金相检验. 优化的照明系统, 精密滚珠轴承工作台(150X100, 250X150mm 两种), 线性金属光栅尺组成的光电测量系统, 计算机内核的数据处理单元, RS232 数字输出, 出厂前的检验合格证书. 

· 三坐标的非接触测量,无测量力

· 测量分辨率0.5μm

· zui小的允许误差保证了测量的高精度, 如150mm 长度测量的允许误差仅为2.6μm

· 宽大的测量空间, 长度方向没有空间限制

· 放大倍率达1000倍的表面结构检验, 光源照明充分

· 视频摄像系统可进一步进行图像分析

主机及其配置

 

订货号/Order Number

06839006

06839007

06839008

06839009

带双目镜的主机

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35瓦透射冷光源

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90瓦反射冷光源

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测量范围为150X100毫米的工作台

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测量范围为250X150毫米的工作台

 

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可进行Z轴测量

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数据处理单元

QUADRA-CHECK 220

 

 

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QUADRA-CHECK 230

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技术指标

 

订货号

06839006

06839007

06839008

06839009

测量范围(mm)

150 X 100

250 X 150

150 X 100

250 X 150

轴向zui大允许误差

(1.8+0.005L) μm, (L in mm)

(2.5+0.01L) μm (L in mm)

(1.8+0.005L) μm (L in mm)

(2.5+0.01L) μm (L in mm)

主机重量

110kg

140kg

110kg

140kg

外型尺寸(宽X高X深)

356 X 662 X 540

 

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